El CSIC ha desenvolupat un procediment senzill per fabricar patrons de calibratge per a microscopis de forces atòmiques (AFM). Un únic patró serveix simultàniament per al calibratge de la geometria i de la conductivitat elèctrica.
La Microscòpia de Forces Atòmiques (AFM) permet veure els materials i les seves propietats a nivell atòmicLa Microscòpia de Forces Atòmiques (AFM) permet veure els materials i les seves propietats a nivell atòmic: detecta les minúscules forces atòmiques d'un material. Explicat de forma senzilla, es tracta d'una agulla minúscula (tot just 5 nanòmetres) que recorre a certa distància la superfície d'un material. L'agulla capta la força dels àtoms del material i la transmet a la palanca a la qual va subjecta, i d'aquí als circuits electrònics de mesurament. És una eina fonamental per a estudiar la topografia de materials a escala nanomètrica. També permet mesurar la conductivitat elèctrica dels materials, tot i que és un procediment més complex.
Per tal que la mesura sigui correcta, cal calibrar abans el microscopi. Aquest és un dels aspectes més complexos, perquè requereix una gran precisió. Hi ha diversos mètodes per al calibratge geomètric, generalment facilitats pel fabricant del propi instrument. Però no hi ha mètodes estàndard comercialment disponibles per calibrar el microscopi per a altres usos, especialment quan el microscopi s'està fent servir per mesurar la conductivitat elèctrica (c-AFM).
Científics del CSIC han desenvolupat un mètode que permet la fabricació senzilla d'un patró que permet simultàniament el calibratge geomètric i conductiu del microscopi AFM. La seva facilitat de fabricació és un avantatge perquè pugui ser implementat com un estàndard en els models comercials. Es busca un soci industrial per portar-lo al mercat.
Contacte:
Isabel Gavilanes-Pérez
Vicepresidencia de Transferencia
de Tecnología - CSIC
Tel.: 93 594 77 00