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Última actualizaciónMar, 27 Sep 2022 11am

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Patrón de calibración espacial y de conductividad para microscopios de fuerza atómica

El CSIC ha desarrollado un procedimiento sencillo para fabricar patrones de calibración para microscopios de fuerza atómica (AFM). Un único patrón sirve simultáneamente para la calibración de la geometría y de la corriente eléctrica.

 

La microscopia de fuerza atómica permite ver los materiales y sus propiedades a escala nanométrica.  La Microscopia de Fuerzas Atómicas (AFM) permite estudiar los materiales y sus propiedades a nivel atómico: detecta las minúsculas fuerzas atómicas de un material. Explicado de forma sencilla, el elemento medidor es una aguja minúscula (apenas 5 nanómetros) que recorre a cierta distancia la superficie de un material. La aguja capta la fuerza de los átomos del material y la transmite a la palanca a la que va sujeta, y de ahí a los circuitos electrónicos de medición. El microscopio AFM es una herramienta fundamental para estudiar la topografía de materiales a escala nanométrica. También permite medir la conductividad eléctrica de los materiales, aunque éste es un procedimiento más complejo.

Para que la medida sea correcta, hay que calibrar antes el microscopio. Ese es uno de los aspectos más complejos, porque requiere una gran precisión. Hay diversos métodos para la calibración geométrica, generalmente facilitados por los fabricantes del propio instrumento. Pero no hay métodos estándar comercialmente disponibles para calibrar el microscopio para otros usos, especialmente cuando el microscopio se está usando para medir corrientes eléctricas (c-AFM).

Científicos del CSIC han desarrollado un método que permite la fabricación sencilla de un patrón de calibración para microscopia AFM que permite simultáneamente la calibración geométrica y conductiva. Su facilidad de fabricación es una ventaja para que pueda ser implementado como un estándar en los modelos comerciales. Se busca un socio industrial para llevarlo al mercado.

Contacto:

Isabel Gavilanes-Pérez
Vicepresidencia de Transferencia
de Tecnología - CSIC
Tel.: 93 594 77 00
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