Un microscopi permet mesurar de forma precisa les propietats piezoelèctriques dels materials

Un dispositiu tècnic inventat per investigadors de l'Institut de Ciència de Materials de Barcelona (ICMAB) permet mesurar la piezoelectricitat de forma directa. El nou microscopi permet una caracterització més precisa dels materials piezoelèctrics, millorant les prediccions relatives a la seva activitat en dispositius reals.

Andrés Gómez al laboratorio. Imatge: ICMAB.Actualment, diversos centres d'investigació i tecnològics del camp de l'electrònica realitzen caracteritzacions amb l'equip de l'institut del CSIC i les indústries del sector estan començant a sol·licitar el servei.

La piezoelectricitat és un fenomen present en alguns materials que tenen la propietat de convertir l'energia mecànica en elèctrica. La capacitat que tenen els materials per generar energia neta. Els materials piezoelèctrics tenen múltiples aplicacions en l'electrònica i tecnologia moderna actual, com en condensadors, en escàners d'ecografies, micro-balances, escàner de defectes de soldadura, sonar, tractaments mèdics basats en ultrasons, en sistemes ABS o en mesuradors de nivell de combustible.

La piezoelectricitat és la capacitat que tenen els materials per generar energia neta

L'ICMAB ha desenvolupat un microscopi que permet una mesura directa del fenomen (DPFM, per les sigles en anglès). El dispositiu millora el que més s'utilitza actualment, denominat Microscopi de Piezoresposta (PFM) i que no permet el mesurament directe.

“El microscopi de Forces Atòmiques és un candidat a postular-se com l'equip definitiu per a la caracterització de propietats físiques en els materials gràcies a la seva versatilitat”, indica Andrés Gómez, un dels inventors del dispositiu, i afegeix que el DPFM es presenta com un “mètode quantitatiu per a la caracterització de materials piezoelèctrics i ferroelèctrics, que fins ara no era possible”.

FaLang translation system by Faboba